Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance - Equipe énergie et systèmes embarqués
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance

Alexandre Boyer
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués
Fabrice Caignet
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Résumé

This paper deals with the susceptibility of operational amplifiers (op-amps) in multifrequency injection. After an in-depth analysis of the different failure mechanisms that induces DC-offset based on experimental results on a general-purpose op-amp, the paper proposes a risk assessment method based on continuous wave susceptibility test results.

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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https://laas.hal.science/hal-04734444

Soumis le : lundi 14 octobre 2024-09:18:18

Dernière modification le : mercredi 16 octobre 2024-09:07:52

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Dates et versions

hal-04734444 , version 1 (14-10-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04734444 , version 1

Citer

Alexandre Boyer, Fabrice Caignet. Analysis of Operational Amplifier Susceptibility to Multifrequency Disturbance. 1'th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Oct 2024, Turin (IT), Italy. ⟨hal-04734444⟩

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